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精密测量工具

  • 游标卡尺、千分尺和指示表可选
  • 高分辨率的液晶数显读数
  • 可进行公制和英制单位切换
  • 产品介绍
产品说明

晶萃光学JCOPTIX提供的游标卡尺、千分尺、指示表架等实验室常用测量工具,方便客户进行光机元器件或光学元器件的精密测量或检测。

通用参数
规格类型
高分辨率数显
适用场合
精密测量或检测
数显游标卡尺
  • 测量范围:0~200 mm(0~8 ”)
  • 测量精度:±0.02 mm,分辨率:0.01 mm
  • 清晰的液晶读数显示
  • 手拧螺丝可锁定卡尺位置

晶萃光学JCOPTIX提供的数字游标卡尺允许暴露在冷却液、水、尘或者油的车间环境下使用。卡尺的测量范围为:0~200mm(0~8 ”),液晶读数显示,通过公英制按钮可以实现英制和公制的单位切换。卡尺采用新型人体工程学设计,带拇指调节滚轮和卡尺锁定手拧螺丝,操作方便舒适,可用于测量元器件的外尺寸、内尺寸、深度尺寸等,测量精度:±0.02 mm,分辨率:0.01 mm。

产品型号3D预览测量范围精度分辨率显示方式详细参数地址对比单价发货日期 购物车
CM-DC200
0~200mm(0~8 ”)±0.02 mm0.01 mm(0.0005“)数显式
¥1,638.00 当天
数显千分尺
  • 测量范围:0~25 mm
  • 测量精度:±1 μm,分辨率:1 μm
  • 防护等级为IP65,防尘防喷射
  • 清晰的液晶读数显示

晶萃光学JCOPTIX提供的数显千分尺,防护等级为IP65,可防尘防喷射。千分尺的测量范围为:0~25 mm,液晶读数显示。千分尺手持部分为隔热防滑设计,千分尺尾部带有限制测量力的棘轮装置,保证测量使用相同的力矩,测量面采用硬质合金材质,可用于精密测量元器件的外尺寸,厚度尺寸等,测量精度:±1 μm,分辨率为1 μm。

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CM-DM25
0~25mm±1 μm1 μm数显式
¥1,618.00 当天
数显指示表
  • 测量范围:0~12.7 mm(0~0.5 ”)
  • 测量精度:±0.25 μm,分辨率:1 μm
  • 防护等级为IP42
  • 清晰的液晶读数显示

晶萃光学JCOPTIX提供的数显指示表,防护等级为IP42。指示表的测量范围为:0~12.7 mm(0~0.5 ”),液晶读数显示,通过公英制按钮可以实现英制和公制的单位切换。数显表采用了三丰独立开发的ABS(ABSOLUTE)传感器,即便断电也能再现原点位置,每次开机无需再核对原点位置,也不会发生超速误差,测量可靠性进一步提高。配有数据输出端口,可以连入测量网络系统和统计过程控制系统。数显指示表常用于检测平台或者面包板等的平整度,也可安装在比较仪台架上进行高度尺寸的测量,操作简单快速准确,测量精度:±0.25 μm,分辨率:1 μm。

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CM-DI12.7
0~12.7mm(0~0.5 ”)±0.25 μm1 μm(0.00005“)数显式
¥2,118.00 当天