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干涉实验系统

干涉实验系统
  • 适用本科实验教学及课堂演示
  • 易于组装和使用
  • 可根据实验内容自行调整
  • 可根据客户需求定制
  • 产品介绍
  • 迈克尔逊干涉仪
  • 马赫-曾德尔干涉仪
  • 萨格纳克干涉仪

产品说明

晶萃光学JCOPTIX提供两套干涉实验系统(JC-EDU-OI和JC-EDU-SG),两套系统均可以用于演示光的干涉现象。演示系统内包含全套光机组件,客户可根据实际需求设计独特的干涉演示实验,其中:

- JC-EDU-OI主要用于:

1.了解迈克尔逊干涉原理,了解光干涉的影响因素

2.观察等倾、等厚干涉条纹

3.利用迈克尔逊干涉仪测量未知单色光源的波长

4.利用迈克尔逊干涉仪测量介质的折射率

5.了解并搭建马赫曾德尔干涉仪

- JC-EDU-SG主要用于:

1.了解萨格纳克干涉原理,了解光干涉的影响因素

2.观察干涉条纹

3.了解并搭建萨格纳克干涉仪

通用参数

激光器波长
532 nm/638 nm
激光器功率
5 mW/10 mW
线性位移台
线性位移台行程
25 mm/13 mm

干涉实验系统

产品型号3D预览激光器波长激光器功率激光器光斑直径详细参数分享对比单价发货日期购物车
JC-EDU-OI
532 nm5 mW1.5 mm
¥18,111.00 3周
JC-EDU-SG
638 nm10 mW2.0 mm
¥12,104.00 联系客服