晶萃光学JCOPTIX提供两套干涉实验系统(JC-EDU-OI和JC-EDU-SG),两套系统均可以用于演示光的干涉现象。演示系统内包含全套光机组件,客户可根据实际需求设计独特的干涉演示实验,其中:
- JC-EDU-OI主要用于:
1.了解迈克尔逊干涉原理,了解光干涉的影响因素
2.观察等倾、等厚干涉条纹
3.利用迈克尔逊干涉仪测量未知单色光源的波长
4.利用迈克尔逊干涉仪测量介质的折射率
5.了解并搭建马赫曾德尔干涉仪
- JC-EDU-SG主要用于:
1.了解萨格纳克干涉原理,了解光干涉的影响因素
2.观察干涉条纹
3.了解并搭建萨格纳克干涉仪
激光器波长 532 nm/638 nm | 激光器功率 5 mW/10 mW |
线性位移台 | 线性位移台行程 25 mm/13 mm |
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